반응형 Scanning Electron Microscope1 주사전자현미경 (Scanning Electron Microscope, SEM)-원리, 장점, 단점, 활용, 전망 주사전자현미경(Scanning Electron Microscope, SEM)은 전자를 이용하여 시료 표면을 촬영하여 이미지를 생성하는 장비로, 미세한 구조의 표면을 고해상도로 관찰할 수 있습니다..원리주사전자현미경(SEM)은 전자를 이용하여 시료의 표면을 고해상도로 관찰하는 장비입니다. 이는 광학 현미경과 달리 빛보다 훨씬 짧은 파장을 가진 전자를 사용하기 때문에 미세한 구조까지 관찰할 수 있습니다.SEM의 원리는 크게 두 가지 상호작용에 기반합니다. 첫째, 주사된 전자 광선이 시료 표면과 상호작용하여 2차 전자를 방출합니다. 이는 시료의 표면 모양을 나타내는데 사용됩니다. 둘째, 전자 광선이 시료의 원자와 상호작용하면서 역방향 백 스캐터링 전자와 X-선을 방출합니다. 이들 신호는 시료의 화학적 성분과 .. 2024. 4. 18. 이전 1 다음 반응형